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    請查收!臺式x熒光光譜儀來測量金屬鍍層的詳細操作指南
    發布時間:2024-02-21 點擊:259

    眾所周知,臺式X熒光光譜儀是測量金屬鍍層的一種常用方法,具有精確度高、測試范圍廣的優點,甚至可以用于測試細微的面積以及超薄的鍍層。此方法適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度,包括金(Au)、銀(Ag)、錫(Sn)、銅(Cu)、鎳(Ni)、鉻(Cr)等金屬元素的厚度。今天創想小編來給大家詳細介紹下臺式X熒光光譜儀測量金屬鍍層的詳細操作。

    一、設備準備與設置

    設備檢查:確保X熒光光譜儀處于良好的工作狀態。檢查儀器的電源、冷卻系統、真空系統以及探測器等部件是否正常。

    校準:使用已知成分和厚度的標準樣品對儀器進行校準。這有助于確保測量結果的準確性。

    設置參數:根據待測金屬鍍層的成分和預計厚度,設置合適的X射線管電壓、電流以及測量時間等參數。

    二、樣品處理

    樣品清潔:確保待測樣品表面清潔,無油污、灰塵等雜質??梢允褂镁凭蜻m當的溶劑進行清潔。

    樣品固定:將樣品放置在儀器的樣品臺上,并使用適當的夾具固定,以確保在測量過程中樣品不會移動。

    三、測量步驟

    啟動儀器:按照儀器操作手冊的指示啟動X熒光光譜儀。

    放置樣品:將固定好的樣品放入儀器的測量室,并確保樣品位于X射線管的照射范圍內。

    開始測量:關閉測量室的門,啟動測量程序。儀器將自動發射X射線并收集熒光信號。

    等待測量完成:在測量過程中,不要觸摸儀器或移動樣品。等待測量程序完成并自動停止。

    https://cxyq.maiweiai.com/20240221092036-FhcMdlpY5XIEV6WOH3z4lpUku9FK.jpg

    創想臺式X熒光光譜儀

    四、結果分析

    數據處理:使用儀器附帶的軟件對收集到的熒光信號進行處理和分析。軟件將自動計算出金屬鍍層的成分和厚度。

    結果驗證:將測量結果與已知標準或先前測量的結果進行比較,以驗證結果的準確性。

    結果記錄:將測量結果詳細記錄在實驗報告中,包括樣品的標識、測量條件、測量結果以及任何異常情況的說明。

    五、注意事項

    安全:在操作X熒光光譜儀時,務必遵守安全規程。確保測量室門關閉并鎖定,避免在測量過程中暴露于X射線下。

    樣品保護:對于易氧化或易腐蝕的金屬鍍層,在測量前后應妥善保存樣品,以避免對測量結果產生影響。

    儀器維護:定期對X熒光光譜儀進行維護和保養,以確保其長期穩定運行和測量結果的準確性。

    操作熟練度:操作人員應具備相應的專業知識和技能,熟悉儀器的操作和維護。在初次使用或操作不熟練時,建議在專業人員的指導下進行操作。

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