X熒光光譜儀(XRF)是由激發源(X射線管)和探測系統構成。X熒光光譜儀是一種重要的分析儀器，按色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。按照應用方式，X射線熒光光譜儀又可分為手持式、臺式機等多種類型。

那么X熒光光譜儀有什么不同于別的儀器的優勢呢？

分析速度快：測定用時與測定精密度有關，但通常都很短，可以在2~5分鐘內測完樣品中的全部待測元素。

非破壞性分析：在測定過程中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象，因此同一試樣可以反復多次測量，結果重現性好。

應用廣泛：X射線熒光光譜儀能夠分析從金屬、礦石、土壤、礦渣、陶瓷、玻璃、涂料、塑料等各種樣品中的所有元素，因此在多個領域都有廣泛的應用，如工業生產中的質量控制、地質礦產勘探、環境監測、文物保護以及科學研究等。

總之，X熒光光譜儀因其多種分類和顯著優勢，在多個領域都發揮著不可替代的作用。如需更多關于X熒光光譜儀的信息，建議查閱儀器分析專業書籍或咨詢該領域專業人士。